搜索结果: 1-15 共查到“电子科学与技术 检测”相关记录231条 . 查询时间(0.35 秒)
中国科学院合肥物质科学研究院专利：一种基于剖面展开融合的多激光雷达多视点对象检测方法
中国科学院合肥物质科学研究院 专利 剖面展开融合 多激光雷达 多视点 对象检测
<
2023/12/26
中国科学院合肥物质科学研究院专利：一种基于剖面展开融合的多激光雷达多视点对象检测方法
中国科学院合肥物质科学研究院专利：橡胶部件轮廓激光在线检测装置
中国科学院合肥物质科学研究院 专利 橡胶部件轮廓 激光在线检测
<
2023/12/25
中国科学院合肥物质科学研究院专利：橡胶部件轮廓激光在线检测装置
中国科学院微电子研究所专利：高压开关电源的隔离式电压电流检测控制电路
中国科学院微电子研究所 专利 高压开关电源 隔离式 电压电流 检测控制电路
<
2023/7/10
中国科学院微电子研究所专利：高压开关电源的隔离式电压电流检测控制电路
中国科学院微电子研究所专利：带有防阻塞功能的分子检测纳米孔器件及其制作方法
中国科学院微电子研究所 专利 防阻塞功能 分子检测 纳米孔器件
<
2023/7/6
中国科学院微电子研究所专利：带有防阻塞功能的分子检测纳米孔器件及其制作方法
中国科学院微电子研究所专利：一种高精度电压检测电路及方法
中国科学院微电子研究所 专利 高精度 电压检测 电路
<
2023/7/5
中国科学院微电子研究所专利：一种高精度电压检测电路及方法
中国科学院国家纳米科学中心专利：一种非破坏性检测表面形貌的方法
中国科学院国家纳米科学中心 专利 非破坏性 检测 表面形貌
<
2023/6/15
中国科学院国家纳米科学中心专利：一种非破坏性检测表面形貌的方法
2023年4月26日，由中科院高能物理研究所济南研究部（济南中科核技术研究院）自主研发的全自动IGBT缺陷X射线三维检测设备正式亮相功率半导体行业联盟第八届国际学术论坛。该设备依托X射线计算机层析成像（CL）技术和先进的缺陷智能检测软件算法，为IGBT模块封测提供了全新的无损检测解决方案。
中国科学院物理研究所专利：一种半导体抛光晶片表面划痕的检测方法
中国科学院物理研究所专利：直拉单晶硅片的结构缺陷检测方法
中国科学院物理研究所专利：一种硅片检测方法和硅片检测装置
中国科学院物理研究所专利：一种自助式核酸检测一体机及微流控芯片
无线电能传输系统金属异物检测方法研究
无线电能传输 金属异物检测 自由谐振 涡流效应
<
2024/3/12
无线电能传输系统在工作过程中,线圈间存在混入金属异物的情况,金属的涡流效应会产生涡流损耗并导致升温,具有较大的安全隐患。产生的涡流损耗使得初级线圈的等效输入阻抗增大,而磁性金属较高的磁导率具有增强涡流损耗的作用。在有限元仿真中得出了金属异物在垂直移动、水平移动及更换材料种类和体积时产生的等效输入阻抗变化规律,并进一步得出该变化使初级线圈在自由谐振下的电压衰减幅度呈现规律凹形,与无异物时有明显差异。
上海市计量测试技术研究院携手赛默飞世尔科技(中国)有限公司共建集成电路检测技术示范实验室（图）
集成电路 数字经济 材料检测
<
2023/4/12
2023年3月23日，上海市计量测试技术研究院(以下简称：上海市计测院)与赛默飞世尔科技(中国)有限公司(以下简称：赛默飞世尔)共建的“集成电路检测技术应用示范实验室”揭牌仪式在上海张江举办。