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清华大学分析测试中心高级工程师李展平来中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所进行学术交流（图）
清华大学分析测试中心 高级工程师 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 学术交流
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2016/9/18
2016年9月12日，清华大学分析测试中心高级工程师李展平应邀来中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所进行学术交流与访问，并作了题为“飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术及其应用”的学术报告。报告会上，李展平老师详细介绍了飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)分析技术的发展历史以及设备的主要原理，同时也将TOF-SIMS与现有的表面分析仪器以及其它种类质谱仪做了详细对比，认为TOF-...