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搜索结果:
1-1
共查到
“
辐射物理与技术 X射线辐照测试
”
相关记录1条 . 查询时间(0.111 秒)
中国科学院新疆理化技术研究所专利:用于晶片级器件辐射效应试验的
X射线辐照测试
设备
中国科学院新疆理化技术研究所
专利
晶片级器件
辐射效应试验
X射线辐照测试
<
2024/1/8
本发明涉及用于晶片级器件辐射效应试验的
X射线辐照测试
设备,该设备是由
X射线辐照
装置、显微成像装置、探针台、冷却与空气循环装置、辐
射测
量装置、控制与
测试
分系统、框架、水平导轨、高压程控电源、
X射线
控制器、UNIDOS剂量仪、控制计算机、半导体参数
测试
仪、示波器和矩阵开关组成,该设备实现晶片级器件的
辐照
与在
线辐
射效应参数提取及实时监测;并实现
辐照测试
的一体化、操作的自动化,可显著提高
辐照
与
测试
的稳定性...
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