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X射线荧光光谱原位微区分析的地学应用评介
原位微区分析 扫描核探针 同步辐射X射线微探针 微束X射线荧光光谱 多功能X射线荧光光谱 微-纳区分析 微-毫区分析
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2020/11/2
原位微区分析是微观物质研究的重要手段,是现代分析技术的重要发展方向。以扫描核探针(SNM)、同步辐射X射线微探针(SR-XRMP)、二次离子质谱(SIMS)和激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)为主的微区痕量分析技术是一类新的微区分析手段,它从根本上解决了以电子探针分析技术(EMPA)和各类电镜(扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、分析电子显微镜(AEM))为主的电...