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中国科学院合肥物质科学研究院专利： 一种薄膜样品全自动裁切方法与装置
中国科学院合肥物质科学研究院 专利 薄膜样品 全自动裁切
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2023/12/27
中国科学院合肥物质科学研究院专利：一种薄膜样品全自动裁切方法与装置
中国科学院合肥物质科学研究院专利：一种薄膜样品全自动裁切方法与装置
中国科学院合肥物质科学研究院 专利 薄膜样品 全自动裁切
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2023/8/28
本发明提供一种薄膜样品全自动裁切方法与装置,其方法是将薄膜放置在设定的薄膜平台上,利用薄膜固定平台和压板将薄膜平整压紧固定;然后利用空间错位法，上下两个相互垂直的带有平行刀具的薄膜裁切系统通过先后裁切薄膜的纵向和横向,来实现方形薄膜样品的精确裁切;通过电路和预设程序来控制电磁阀的开闭从而实现气动平台和气缸等部件的全自动工作,进而实现方形薄膜样品的全自动裁切。然后通过设计的薄膜固定平台推出机构,将裁...
中国科学院高能物理研究所专利：一种获得高品质薄膜样品X射线吸收谱的方法
中国科学院高能物理研究所 专利 薄膜样品 X射线 吸收谱
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2023/8/10
中国科学院高能物理研究所专利：一种获得高品质薄膜样品X射线吸收谱的方法
X射线荧光光谱检测多层薄膜样品的增强效应研究
X射线荧光光谱 薄膜 增强效应
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2009/10/30
研究了X射线荧光光谱检测多层薄膜样品的增强效应。根据多层膜中的X荧光强度理论计算公式编写了计算机程序，并计算了Zn/Fe和Fe/Zn双层膜样品中不同薄膜厚度时Fe Kα的一次荧光强度、二次荧光强度、二次荧光与一次荧光强度比以及二次荧光在总荧光强度中比例。研究发现，在多层膜样品的X射线荧光分析中，激发条件不变的情况下，元素谱线的一次荧光相对强度、二次荧光相对强度和二次荧光在总荧光强度中所占比例都随薄...