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搜索结果: 1-15 共查到工学 厚度测量相关记录15条 . 查询时间(0.115 秒)
通过分析合金成分优化合金代码算法模型,计算理论厚度补偿系数并完成规程的预设定,开发了测厚仪特殊合金 补偿系数曲线模型,实现了钛带厚度在线测量,保证了厚度检测精度,为冷轧生产线开发大量高效高专新产品提供保障。
为准确测定烟叶厚度,了解当前各产区烟叶厚度情况,以提供烟叶质量评价参考,通过多点打孔测定烤烟三个部位共75 片烤烟烟叶厚度,确定了烤烟烟叶较具代表性的厚度检测点的位置及数量:在距离主脉1/2半叶宽处由叶尖到叶基取等距离分布的5个检测点,以其厚度算数平均值作为整片烟叶厚度。按照本方法测定了16个省份的1200 片中上部烟叶样品厚度,结果表明黄淮产区和东南产区中上部烟叶厚度最大,西南产区同部位烟叶厚度...
针对原子自旋器件的碱金属气室镀膜层厚度的精确测量, 提出了一种基于受抑全反射的膜层厚度测量方法。根据该方法搭建了膜厚测量系统, 并进行了实验测试。分析了受抑全反射的基本理论和基于受抑全反射的膜厚测量原理, 介绍了基于该方法的膜厚测量系统的构成及工作原理并分析了影响系统测量精度的主要因素和解决方案。通过分析和仿真激光器波长的波动、入射角变化以及折射率参数的不准确等对膜厚测量结果的影响评价了系统的性能...
在分析影响现有辐照后板材厚度测量不确定度高的原因基础上,进行了大量的对比测量试验,得到了相关测量数据,提出了一系列改进措施,对原有热室内辐照后板材厚度测量方法进行了改进.通过设计专用测量夹具,将原有机械手拖动测量方式改为夹具导向式测量,有效地解决了板材厚度测量时竖直侧立问题,标准试块固定问题及电感测微仪测头与板材接触力问题,使测量数据不确定度降低了1个数量级,大大降低了人员接受剂量、劳动强度及设备...
提出一种新的处理方法-XPS标准曲线法来测量硅片上超薄氧化硅层(SiO2/Si)的厚度。该方法利用一系列氧化硅厚度(d)准确已知的SiO2/Si标准样品,分别记录其氧化硅和元素硅的Si(2p)谱线,并得到峰高比(R),然后将厚度(d)对峰高比(R)作图得到标准曲线。在相同的实验条件下,测得未知样品氧化硅和元素硅的Si(2p)谱线并计算其峰高比,通过插入法在标准曲线上得到相应的氧化硅层厚度。SiO2...
为解决薄膜厚度的高精度测量问题,提出一种基于相位偏移干涉术的薄膜厚度测量新方法,利用该方法对一个实际SiO2薄膜样片进行测试,通过对所获取的干涉图进行相位解包及数据分析处理,实现对薄膜样片厚度的精确测试。结果表明:该方法具有非接触和测量精度高等优点,所测薄膜厚度的峰谷值为0.162μm,均方根值为0.043μm,为薄膜工艺的进一步研究提供了检测方法上的技术保障。
nm量级薄膜厚度测量     薄膜厚度  反射率拟合  Bragg衍射       < 2009/8/24
为了获得nm量级薄膜样品的精确厚度,采用软X射线反射率拟合方法、Bragg衍射方程方法和反射率Fourier变换方法分析了常规Cu靶X射线衍射数据及软X射线反射率数据。对厚度测量结果进行比较,3种方法得到的结果一致性很好。其中,软X射线反射率拟合和Bragg衍射方程方法精度很高,优于1 nm,Fourier变换方法精度稍低。对于单层W薄膜样品,3种方法获得厚度分别为(15.21±0.60) nm,...
介绍了轴瓦厚度测量系统分析计划的制订,测量系统偏倚特性、稳定性和线性分析.对测量系统的重复性与再现性分析步骤、计算过程、分析结果做了详尽的剖析与讨论.认为自行开发研制的轴瓦厚度测量机的偏倚特性、稳定性和线性能满足测量要求,其重复性与再现性指标 R&R%<30%,基本上具有所需的测量能力.
为了实现对核磁共振成像中髋关节软骨厚度的自动检测,该文提出了基于结合高斯滤波的零交叉点的自动测量方法。模拟人体髋关节股头软骨的厚度分布,建立二维薄面体的数学模型。引入了模拟MR图像摄影过程的点扩散函数模型,可以模拟出沿薄面体法线方向MR仿真信号的强度波形。利用基于高斯二阶微分的零交叉法可以实现对薄面体厚度的准确测量,定义薄面体的厚度为沿着薄面体法线方向的高斯二阶微分的两个零交叉点之间的距离。薄面体...
提出了一种应用激光外差测量技术结合激光多普勒技术的玻璃厚度测量方法.论述了该方法的理论依据,并结合实际应用介绍了外围硬件电路的设计方法,运用Matlab软件结合FFT技术进行了数值仿真实验,结果表明该方法在测量1~10 mm的平板玻璃时,误差小于1%.
为改进石油输送过程中的油垢厚度检测方法,本工作借助实验和MCNP程序研究射线散射法测量输油管道中油垢厚度。计算结果表明,半油情况下对油垢厚度测量与无油情况下的偏离不超过4.19%。在此情况下,用γ射线散射法测量油垢厚度是一可行途径。
激光在线厚度测量系统采用了激光位移传感器,利用电荷耦合器件实现光电转换。它可以测量板材准确的厚度和宽度值,并实时显示被测物轮廓曲线。其主要技术指标为:⑴最大测量宽度700mm,宽度测量静态误差±1mm;⑵最大测量厚度0~30mm,厚度测量误差±0.2mm;⑶被测物体移动速度15m/分,测量扫描速度>60mm/s。上述指标可根据用户的要求特殊设计。该项目可广泛用于生产线上对各种板材的厚度、宽度、轮廓...
成果简介:GM-Ⅱ型液晶盒间隙厚度测量仪是GM-Ⅱ型测量仪的产品化成果,是液晶显示器科研与生产过程中必不可少的质量保证手段,对发展中国液晶显示器有重要意义。该测量仪解决了信号自动识别,图像处理与特殊光学设计和定标等关键技术。具有测量精度高,测量光斑直径小,自动测量面积大,测量时间短,使用功能强,可靠性好,价格低等特点。它可根据用户需要广泛用于液晶显示器科研与生产中进行自动或半自动、实时、快速、单点...
2003成果类型:应用技术成果完成单位:中国科学院上海光学精密机械研究所 成果摘要:该实用新型专利是一种光学波片厚度测量仪,主要适用于测量光学晶体波片的厚度。该装置包括:含有支柱顶端的台顶,中间有支撑台,低端有台座的检测台。台顶的通光孔中心与支撑台通光孔中心与台座的通光孔中心是一条垂直线,与置于台顶单色光源发射的光束经过起偏器、全反射镜,穿过待测波片、再经过检偏器至探测器的光路的光轴重合。计算机...

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