工学 >>> 电子科学与技术 >>> 半导体技术 >>> 半导体测试技术 >>>
搜索结果: 1-3 共查到半导体测试技术 半导体研究所相关记录3条 . 查询时间(0.344 秒)
在中国科学院半导体研究所超晶格国家重点实验室李树深院士的研究组中,博士生马稳龙与香港中文大学刘仁保教授、北京计算科学中心赵楠研究员合作,在Si:P系统量子比特的退相干研究方面取得了新的理论发现,并被英国伦敦大学John J.L. Morton教授的实验组所证实,理论和实验的工作一起发表在Nature子刊系列《自然·通讯》上。
中国科学院半导体研究所2014年硕士招生入学考试业务课考试大纲(覆盖范围)。
2011年6月28日,中国科学院半导体研究所照明检测中心经过一年多全体员工的共同努力,以及内审和管理评审等一系列准备工作。终于迎来了CNAS 17025质量管理体系现场评审。中国科学院半导体所照明检测中心是在原有照明研发中心的基础上,按照CNAS认可准则于2010年开始筹建的,旨在推动我国半导体照明节能产业健康有序发展,为半导体照明产业化的可持续发展提供测试与评价技术支撑和服务。

中国研究生教育排行榜-

正在加载...

中国学术期刊排行榜-

正在加载...

世界大学科研机构排行榜-

正在加载...

中国大学排行榜-

正在加载...

人 物-

正在加载...

课 件-

正在加载...

视听资料-

正在加载...

研招资料 -

正在加载...

知识要闻-

正在加载...

国际动态-

正在加载...

会议中心-

正在加载...

学术指南-

正在加载...

学术站点-

正在加载...