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C276合金质子辐照损伤模拟及活化分析 C276 TRIM程序活化 < 2009/7/10

C276合金是先进核电站燃料元件包壳的候选材料之一。本工作采用TRIM程序分别计算10和20MeV质子辐照C276所产生的辐照损伤，比较分析能损、离位原子、DPA等参数分布。同时使用FISPACT-2007程序进行活化计算，对放射性活度、衰变余热及接触剂量率等参数进行了详细分析。结果表明：辐照损伤主要来自电子能损的贡献，高能质子与靶原子发生碰撞的几率较低。C276经同种能量质子辐照后，活化特性随...